PRODUKTINNOVATION
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Gemeinsame Weiterentwicklung der ChipFilm-Technologie
Die Fähigkeit der Herstellung ultradünner Chips wird
künftig bei Anwendungen im Bereich der Mikroelektronik und
Mikrosystemtechnik, wie dreidimensionalen integrierten Schaltungen (3D
IC) und Systems-in-foil (SiF) eine zentrale Rolle spielen.
IMS CHIPS und die Robert Bosch GmbH haben einen Kooperationsvertrag zur
gemeinsamen Entwicklung und Vermarktung eines Herstellungsverfahrens
für ultradünne Chips unterzeichnet.
Die Robert Bosch GmbH Reutlingen und das Institut für
Mikroelektronik Stuttgart (IMS CHIPS) haben ihre Schutzrechte zu
einerseits den auf porösem Silizium basierten APSM Drucksensoren
von Bosch und andererseits den so genannten Chipfilm(TM) - und Pick,
Crack & Place(TM) - Prozessen zur Fertigung dünner Chips von
IMS CHIPS zusammengefasst. Die Partner wollen Ihre
Entwicklungsaktivitäten bündeln, um die Chipfilm(TM)
Technologie für die industrielle Massenproduktion zu qualifizieren.
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Zum Thema wurden Productronica 2007 Aussteller gefunden: |
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Die bahnbrechende Chipfilm(TM) -Technologie wurde von IMS CHIPS
entwickelt und erstmalig beim IEEE International Devices Meeting (IEDM)
im Jahr 2006 vorgestellt. Während dieses Vorprozesses werden
extrem flache Hohlräume unter den Chipoberflächen auf dem
Wafer erzeugt. Die Hohlräume entstehen durch zweistufiges
anodisches Ätzen in die Waferoberfläche, Sintern und
epitaktisches Überwachsen, womit die angestrebte Chipdicke
festlegt und für integrierte Schaltungen verwendbares Silizium
erzeugt wird. In dieser Phase des Waferprozesses sind die Chipgebiete
noch fest mit dem Substrat verbunden, und zwar sowohl durch laterale
Verankerungen als auch durch den Unterdruck, der in den extrem flachen
Kavernen herrscht. Die Chipfilm(TM) -Wafer können wie
herkömmliche Substrate in der Halbleiterfertigung eingesetzt
werden. Im Anschluss an die Schaltungsintegration werden Gräben
mit Hilfe des von Bosch entwickelten "DRIE"-Prozesses entlang den
Chipseiten bis hinunter zu den vergrabenen Hohlräumen geätzt,
wobei lediglich wenige Ankerpunkte zwischen den Chips und dem
Wafersubstrat belassen werden. Während des Pick,
Crack&Place(TM) -Prozesses werden die Anker gebrochen, die Chips
von den Wafern entnommen und direkt der endgültigen Bestimmung
zugeführt. Die verbleibenden Siliziumsubstrate können wieder
verwendet werden.
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