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CD mit Testanwendungen für Halbleiterbauelemente
Keithley Instruments stellt den "Semiconductor Device Test Applications
Guide" vor. Zusätzlich zu einem Anwendungsleitfaden enthält
diese CD auch verschiedene Informationen zu Halbleiter-Testanwendungen
wie Applikationsberichte, White Papers und Präsentationen, mit
denen die Anwender ihre Testkosten senken und komplexe Anwendungen
vereinfachen können. Der "Semiconductor Device Test Applications
Guide" ist kostenlos verfügbar unter:http://www.ggcomm.com/Keithley/May08PR_SemiAppsGuide.html.
Sechs Kapitel zu folgenden Themen sind auf der CD enthalten:
Flossmann_josef@keithley.com, info@prismapr.com
Sechs Kapitel zu folgenden Themen sind auf der CD enthalten:
- Test von zweipoligen Bauteilen
- Test von Bipolartransistoren
- Test von FETs
- Halbleitersubstrat-Vorspannung „Substrate Biasing“
- Tests mit hoher Leistung
Flossmann_josef@keithley.com, info@prismapr.com
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